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臺(tái)式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn)

更新時(shí)間:2022-12-06      點(diǎn)擊次數(shù):555
  臺(tái)式掃描電鏡(Desktop Scanning Electron Microscope, Desktop SEM)相較于傳統(tǒng)大型SEM,臺(tái)式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡便、價(jià)格便宜、快速抽真空、不用噴金測(cè)量不導(dǎo)電樣品等優(yōu)勢(shì),而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域,可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。
 
  臺(tái)式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn):
 
  成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中,真空柱底端即為右圖所示的密封室,用于放置樣品。之所以要用真空,主要基于以下兩點(diǎn)原因:電子束系統(tǒng)中的燈絲在普通大氣中會(huì)迅速氧化而失效,所以除了在使用SEM時(shí)需要用真空以外,平時(shí)還需要以純氮?dú)饣蚨栊詺怏w充滿整個(gè)真空柱。為了增大電子的平均自由程,從而使得用于成像的電子更多。
 
  不僅可在真空下,還可在大氣壓下進(jìn)行觀察,含水樣品也無需前處理即可直接觀察,是目前市面上一款大氣壓模式下觀測(cè)的掃描電鏡,免去了了生物,食品,化妝品等樣品復(fù)雜的前處理過程,同時(shí)還能觀察樣品的原始形貌。臺(tái)式掃描電鏡在成分分析方面主要有EDS能譜丶WDS波譜兩種偵測(cè)器可以搭配,能譜分析速度較快,元素檢測(cè)極限約1000~2000ppm。
 
  波譜分析速度較慢,但元素偵測(cè)極限較好,約在10~100ppm,成分分析分析方法上面有三種模式可以選擇,奈米范圍內(nèi)微小區(qū)域成分分析,可以幫助使用者做特定區(qū)域的分析,可以觀察掃描線段區(qū)域的成分變化。

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