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巖礦分析是對(duì)巖石、礦物等天然或人工材料進(jìn)行化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特征的系統(tǒng)鑒定過程，它是地質(zhì)科學(xué)、環(huán)境科學(xué)以及材料科學(xué)中不可少的技術(shù)。巖礦分析系統(tǒng)的關(guān)鍵知識(shí)點(diǎn)：1.分析原理與技術(shù)-基本原理：巖礦分析基于物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，諸如密度、磁性、電性、光學(xué)特性以及化學(xué)反應(yīng)特性等來進(jìn)行。這些性質(zhì)能夠幫助科學(xué)家識(shí)別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法：常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質(zhì)譜分析(MS)等，這些技術(shù)能夠?qū)r石和礦物進(jìn)行準(zhǔn)...

超高壓XRD技術(shù)是一種利用X射線與物質(zhì)相互作用，通過分析衍射圖譜來研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的技術(shù)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1.物相和晶體結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確測(cè)定-物質(zhì)組成分析：能夠準(zhǔn)確測(cè)定物質(zhì)的組成，包括晶體和非晶體的組成。-晶型識(shí)別：通過衍射圖譜可以識(shí)別不同的晶型，為材料的性質(zhì)研究提供基礎(chǔ)。-分子結(jié)構(gòu)分析：能夠分析分子內(nèi)的成鍵方式、分子的構(gòu)型和構(gòu)象，從而深入了解物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)。2.高壓環(huán)境下的研究能力-高壓實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)：配備...

原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，AFM)是一種具有原子級(jí)別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀察導(dǎo)體和半導(dǎo)體材料的表面現(xiàn)象，而且能用來觀察諸如玻璃、陶瓷等非導(dǎo)體表面的微觀結(jié)構(gòu)，還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，大大地拓展了顯微技術(shù)在生命科學(xué)、物理、化學(xué)、材料科學(xué)和表面科學(xué)等領(lǐng)域中的應(yīng)用。AFM主要由掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而來，其基本原理相似。AFM通過一個(gè)微小的針尖與樣品表面相互作用，以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表...

光電探測(cè)器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變，在各個(gè)領(lǐng)域有廣泛用途。光電探測(cè)器的核心參數(shù)主要有工作波長(zhǎng)、帶寬、上升時(shí)間和響應(yīng)度，它們是評(píng)估光電探測(cè)器性能的關(guān)鍵指標(biāo)，也是光電探測(cè)器選型的重要依據(jù)。在選擇光電探測(cè)器時(shí)，需要根據(jù)具體應(yīng)用需求來平衡這些指標(biāo)，以獲得良好的檢測(cè)性能。1、工作波長(zhǎng)光電探測(cè)器的工作波長(zhǎng)是指其可以感測(cè)到的光信號(hào)的波長(zhǎng)范圍，通常與探測(cè)器的材料有關(guān)。基于光電探測(cè)器的工作原理，當(dāng)入射光的能量(hv)大于材料的禁帶寬度時(shí)，價(jià)帶的電子才可以躍遷到導(dǎo)帶形成光電流，...

煤巖分析(petrographicanalysisofcoal)是指以光學(xué)顯微鏡為主要主具兼用肉眼和其他手段，對(duì)煤的巖石組成、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、煤化度作定性描述和定量測(cè)定的方法。是研究煤帶學(xué)的重要手段。最常規(guī)的分析項(xiàng)目是煤巖顯微組分和礦物質(zhì)的測(cè)定、鏡質(zhì)組反射率測(cè)定、顯微煤巖類型測(cè)定和宏觀描述。全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析。Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在...

X射線衍射儀XRD是一種用于分析晶體結(jié)構(gòu)的重要儀器。它通過測(cè)量晶體中X射線的散射模式來確定晶體的晶格結(jié)構(gòu)和晶體面取向。X射線衍射技術(shù)在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。X射線衍射技術(shù)早期由德國科學(xué)家玻爾默于1912年發(fā)現(xiàn)，并被廣泛應(yīng)用于研究晶體結(jié)構(gòu)。是通過使用X射線管產(chǎn)生X射線，然后將X射線照射到待測(cè)樣品上，記錄X射線經(jīng)過樣品后的散射模式來確定晶體結(jié)構(gòu)的儀器。X射線衍射儀XRD可以幫助科學(xué)家們研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，從而為新材料的開發(fā)和應(yīng)用提供重要的參考?？梢?..

鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。它的總發(fā)射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好，低真空下可以對(duì)不導(dǎo)電樣品無荷電成像，可用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途。工作原理：通過對(duì)電子槍內(nèi)的鎢燈絲加高電壓，使電子槍處于熱激發(fā)狀態(tài)，在陽極作用下，處于熱激發(fā)的電子槍就可以激發(fā)出電子束。經(jīng)過掃描線圈磁場(chǎng)的控制，電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描，激發(fā)出二次電子、背散射電...