臺(tái)式電鏡SEM(Scanning Electron Microscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過(guò)掃描樣品表面并利用反射出的電子來(lái)獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。
 

　　臺(tái)式電鏡SEM主要有以下作用：
 

　　1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)和形貌，為材料表面結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)。
 

　　2.分析元素成分分布：能夠進(jìn)行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生成元素分布圖像。這種方法可以用于材料表面的元素成分分析、微區(qū)元素分布分析等。
 

　　3.研究材料性質(zhì)：還能夠結(jié)合其他技術(shù)手段，如電子探針、能譜分析等技術(shù)，進(jìn)行材料物理性質(zhì)和化學(xué)性質(zhì)等方面的研究。通過(guò)對(duì)材料性質(zhì)的深入研究，有助于理解材料的本質(zhì)和性質(zhì)，為材料設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供依據(jù)。
 

　　4.應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)：廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，例如細(xì)胞表面形態(tài)、細(xì)胞器的結(jié)構(gòu)等方面的研究。通過(guò)觀察生物體內(nèi)微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)，能夠加深人們對(duì)生物學(xué)的認(rèn)識(shí)，為藥物研發(fā)和治療疾病提供依據(jù)。
 

　　臺(tái)式電鏡SEM還可以進(jìn)行能譜分析，通過(guò)測(cè)量樣品表面的X射線(xiàn)能譜和退火電子能譜等，分析樣品表面的元素成分分布情況。能譜分析還可以用于區(qū)分不同的化學(xué)結(jié)構(gòu)和化學(xué)狀態(tài)，為材料的化學(xué)成分分析提供依據(jù)。收集二次電子信號(hào)：SEM收集反射回來(lái)的二次電子信號(hào)來(lái)生成圖像。這些二次電子具有和樣品表面形貌和拓?fù)湫螒B(tài)有關(guān)的信息，收集和分析這些信號(hào)可以獲得樣品表面的形貌信息。