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臺式掃描電鏡在觀察照射物體的細(xì)電子束掃描時,觀察的三維結(jié)構(gòu)的表面(形狀)。一般來說,用掃描電鏡是一個單向觀察圖像,使圖像是相同的圖像平面與單眼觀察。為了得到一個三維圖像,該方法是通過傾斜的載體,從不同的角度分別獲得同等的右眼和左眼觀察觀察靜止圖像(視差圖像)和合成,所以戴上紅藍(lán)眼鏡。但這種方法需要時間,也需要調(diào)整視差圖像,所以它不能實時觀察樣品的掃描電鏡圖像。這時發(fā)達(dá)的邊緣交換機(jī)照射試樣的電子束角和高速掃描技術(shù),成功實現(xiàn)了左右視差圖像瞬時訪問。具體做法使用電磁透鏡的會聚作用,...
1-15
X射線衍射儀XRD是傳統(tǒng)X射線粉末衍射儀的優(yōu)化版,通過成熟的工藝技術(shù),配合LaueCamera801/802,可實現(xiàn)對單晶樣品的高精度測量。X射線衍射儀XRD的信號檢測系統(tǒng)常用的X射線衍射信號檢測手段如下:1.熒光板熒光板是將ZnS、CdS等熒光材料涂布在紙板上制成,當(dāng)X射線信號照射到熒光板上時,熒光板就會發(fā)出熒光。常用熒光板來確認(rèn)光源產(chǎn)生的原射線束的存在,主要用于儀器零點(diǎn)的調(diào)試。2.照相方法照相法是早使用的檢測并記錄X射線的方法,直到現(xiàn)在仍被采用。X射線與可見光一樣,能夠使...
1-8
微觀觀測的發(fā)展產(chǎn)生了掃描電鏡,掃描電鏡將微觀世界的清晰度從“標(biāo)清”調(diào)到了“超清”,解決了地質(zhì)微觀領(lǐng)域的瓶頸?,F(xiàn)階段掃描電鏡在巖石學(xué)、礦物學(xué)、古生物學(xué)、礦石加工和回收利用、石油與天然氣等領(lǐng)域已經(jīng)成為一項*的科研“利器”。掃描電鏡的日常養(yǎng)護(hù)規(guī)定:1.保持儀器操作臺面整潔,不允許身體倚靠,冷水機(jī)等裝置不可放置重物;2.開機(jī)時一定要先開水冷系統(tǒng),并要檢查冷卻水的溫度,關(guān)機(jī)至少15分鐘后才能關(guān)閉冷卻水;3.進(jìn)樣品時,檢查Z軸和T軸的位置.緩緩關(guān)閉樣品室,確保進(jìn)樣倉門*關(guān)閉,才可進(jìn)行抽氣...
12-12
早期的臺式電鏡僅可以分析直徑不超過25mm的樣品,但是新型臺式電鏡能夠容納直徑達(dá)60mm、高度達(dá)45mm的樣品,并允許操作人員控制樣品臺的移動和旋轉(zhuǎn)。這些特征使臺式電鏡的分析范圍更廣,可獲取高分辨率圖像,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、制藥、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺式電鏡還可以被用來分析半導(dǎo)體及電子產(chǎn)品中的各種成分,并可以進(jìn)行生命科學(xué)樣品各種特征的研究;還可以用在科學(xué)館,中小學(xué)校教育機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域。臺式電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域逐漸變得越來越多?;蛟S剛剛開始使用臺式...
12-4
臺式電鏡主要用于各類微觀樣品表面形貌、組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速檢測以及其元素成份分析,具有高低真空成像模式。可對金屬和其他導(dǎo)體以及作導(dǎo)電噴涂處理后的樣品采用高真空模式成像。對未經(jīng)導(dǎo)電噴鍍處理的非導(dǎo)電樣品可進(jìn)行原始狀態(tài)下的觀察,并保持樣品的原始形貌,得到真正的表面形貌。對含水量較高的樣品,可以在冷凍輔助下觀測形貌。配備能譜分析,可以對微區(qū)元素定性定量分析。配備離子濺射儀,可滿足無導(dǎo)電物質(zhì)噴濺需求。臺式電鏡的制樣流程分析:一、觀察形貌的塊狀樣品制備清洗(干燥→吹掉浮粉)→固定→導(dǎo)電處理。...
11-13
場發(fā)射電鏡的電子發(fā)射源為冷場,物鏡為半浸沒式,可利用二次電子、背散射電子信號成像來觀察樣品表面形態(tài)。在高加速電壓下,二次電子圖像分辨率為1nm,背散射電子圖像分辨率3.0nm。在低加速電壓下,二次電子圖像分辨率為2nm,有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。場發(fā)射電鏡配置的主要附件為X射線能譜儀,利用該附件可以在觀察樣品表面微觀形貌的同時進(jìn)行微區(qū)成分定性和半定量以及元素分布分析。針對不導(dǎo)電樣品,配置高分辨磁控離子濺射儀,可以準(zhǔn)確地為樣品噴鍍厚度均勻的導(dǎo)電膜,從而實現(xiàn)該類樣品的電鏡分...
11-9
SEM掃描電鏡從原理上講,照明體系與透射電子顯微鏡中的類似。但不一樣的是掃描電鏡有一些獨(dú)*需求,例如經(jīng)聚光鏡作用后抵達(dá)樣品處的電子束應(yīng)是直徑很細(xì)的電子探針;電子束能作掃描運(yùn)動;末級聚光鏡的計劃應(yīng)便于信號的搜集等。SEM掃描電鏡的三類電子講解:1.二次電子是指背入射電子轟擊出來的核外電子。由于原子核和外層價電子間的結(jié)合能很小,當(dāng)原子的核外電子從入射電子獲得了大于相應(yīng)的結(jié)合能的能量后,可脫離原子成為自由電子。如果這種散射過程發(fā)生在比較接近樣品表層處,那些能量大于材料逸出功的自由電...
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